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    Chinese Journal Of Electronics

    Chinese Journal Of ElectronicsSCIE

    國際簡稱:CHINESE J ELECTRON  參考譯名:中國電子雜志

    • 中科院分區

      4區

    • CiteScore分區

      Q2

    • JCR分區

      Q3

    基本信息:
    ISSN:1022-4653
    E-ISSN:2075-5597
    是否OA:未開放
    是否預警:否
    TOP期刊:否
    出版信息:
    出版地區:PEOPLES R CHINA
    出版商:Chinese Institute of Electronics
    出版語言:English
    出版周期:Bimonthly
    出版年份:1991
    研究方向:工程技術-工程:電子與電氣
    評價信息:
    影響因子:1.6
    H-index:21
    CiteScore指數:3.7
    SJR指數:0.332
    SNIP指數:0.779
    發文數據:
    Gold OA文章占比:24.46%
    研究類文章占比:99.17%
    年發文量:121
    自引率:0.1666...
    開源占比:0.2276
    出版撤稿占比:0
    出版國人文章占比:0.91
    OA被引用占比:0
    英文簡介 期刊介紹 CiteScore數據 中科院SCI分區 JCR分區 發文數據 常見問題

    英文簡介Chinese Journal Of Electronics期刊介紹

    CJE focuses on the emerging fields of electronics, publishing innovative and transformative research papers. Most of the papers published in CJE are from universities and research institutes, presenting their innovative research results. Both theoretical and practical contributions are encouraged, and original research papers reporting novel solutions to the hot topics in electronics are strongly recommended.

    期刊簡介Chinese Journal Of Electronics期刊介紹

    《Chinese Journal Of Electronics》自1991出版以來,是一本計算機科學優秀雜志。致力于發表原創科學研究結果,并為計算機科學各個領域的原創研究提供一個展示平臺,以促進計算機科學領域的的進步。該刊鼓勵先進的、清晰的闡述,從廣泛的視角提供當前感興趣的研究主題的新見解,或審查多年來某個重要領域的所有重要發展。該期刊特色在于及時報道計算機科學領域的最新進展和新發現新突破等。該刊近一年未被列入預警期刊名單,目前已被權威數據庫SCIE收錄,得到了廣泛的認可。

    該期刊投稿重要關注點:

    Cite Score數據(2024年最新版)Chinese Journal Of Electronics Cite Score數據

    • CiteScore:3.7
    • SJR:0.332
    • SNIP:0.779
    學科類別 分區 排名 百分位
    大類:Mathematics 小類:Applied Mathematics Q2 170 / 635

    73%

    大類:Mathematics 小類:Electrical and Electronic Engineering Q2 365 / 797

    54%

    CiteScore 是由Elsevier(愛思唯爾)推出的另一種評價期刊影響力的文獻計量指標。反映出一家期刊近期發表論文的年篇均引用次數。CiteScore以Scopus數據庫中收集的引文為基礎,針對的是前四年發表的論文的引文。CiteScore的意義在于,它可以為學術界提供一種新的、更全面、更客觀地評價期刊影響力的方法,而不僅僅是通過影響因子(IF)這一單一指標來評價。

    歷年Cite Score趨勢圖

    中科院SCI分區Chinese Journal Of Electronics 中科院分區

    中科院 2023年12月升級版 綜述期刊:否 Top期刊:否
    大類學科 分區 小類學科 分區
    計算機科學 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 4區

    中科院分區表 是以客觀數據為基礎,運用科學計量學方法對國際、國內學術期刊依據影響力進行等級劃分的期刊評價標準。它為我國科研、教育機構的管理人員、科研工作者提供了一份評價國際學術期刊影響力的參考數據,得到了全國各地高校、科研機構的廣泛認可。

    中科院分區表 將所有期刊按照一定指標劃分為1區、2區、3區、4區四個層次,類似于“優、良、及格”等。最開始,這個分區只是為了方便圖書管理及圖書情報領域的研究和期刊評估。之后中科院分區逐步發展成為了一種評價學術期刊質量的重要工具。

    歷年中科院分區趨勢圖

    JCR分區Chinese Journal Of Electronics JCR分區

    2023-2024 年最新版
    按JIF指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
    學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q3 239 / 352

    32.2%

    按JCI指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
    學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q3 257 / 354

    27.54%

    JCR分區的優勢在于它可以幫助讀者對學術文獻質量進行評估。不同學科的文章引用量可能存在較大的差異,此時單獨依靠影響因子(IF)評價期刊的質量可能是存在一定問題的。因此,JCR將期刊按照學科門類和影響因子分為不同的分區,這樣讀者可以根據自己的研究領域和需求選擇合適的期刊。

    歷年影響因子趨勢圖

    發文數據

    2023-2024 年國家/地區發文量統計
    • 國家/地區數量
    • CHINA MAINLAND494
    • USA14
    • Canada5
    • England5
    • France3
    • Japan3
    • Australia2
    • India2
    • Iran2
    • South Korea2

    本刊中國學者近年發表論文

    • 1、Towards Evaluating the Robustness of Adversarial Attacks Against Image Scaling Transformation

      Author: Zheng, Jiamin; Zhang, Yaoyuan; Li, Yuanzhang; Wu, Shangbo; Yu, Xiao

      Journal: CHINESE JOURNAL OF ELECTRONICS. 2023; Vol. 32, Issue 1, pp. 151-158. DOI: 10.23919/cje.2021.00.309

    • 2、A Fine-Grained Object Detection Model for Aerial Images Based on YOLOv5 Deep Neural Network

      Author: Zhang, Rui; Xie, Cong; Deng, Liwei

      Journal: CHINESE JOURNAL OF ELECTRONICS. 2023; Vol. 32, Issue 1, pp. 51-63. DOI: 10.23919/cje.2022.00.044

    • 3、Infrared and Visible Image Fusion Based on Blur Suppression Generative Adversarial Network

      Author: Yi, Shi; Liu, Xi; Li, Li; Cheng, Xinghao; Wang, Cheng

      Journal: CHINESE JOURNAL OF ELECTRONICS. 2023; Vol. 32, Issue 1, pp. 177-188. DOI: 10.23919/cje.2021.00.084

    • 4、An Interactive Perception Method Based Collaborative Rating Prediction Algorithm

      Author: Yan, Wenjie; Zhang, Jiahao; Li, Ziqi

      Journal: CHINESE JOURNAL OF ELECTRONICS. 2023; Vol. 32, Issue 1, pp. 97-110. DOI: 10.23919/cje.2022.00.034

    • 5、Linguistic Steganalysis via Fusing Multi-Granularity Attentional Text Features

      Author: Wen, Juan; Deng, Yaqian; Peng, Wanli; Xue, Yiming

      Journal: CHINESE JOURNAL OF ELECTRONICS. 2023; Vol. 32, Issue 1, pp. 76-84. DOI: 10.23919/cje.2022.00.009

    • 6、AttrLeaks on the Edge: Exploiting Information Leakage from Privacy-Preserving Co-inference

      Author: Wang, Zhibo; Liu, Kaixin; Hu, Jiahui; Ren, Ju; Guo, Hengchang; Yuan, Wei

      Journal: CHINESE JOURNAL OF ELECTRONICS. 2023; Vol. 32, Issue 1, pp. 1-12. DOI: 10.23919/cje.2022.00.031

    • 7、Principled Design of Translation, Scale, and Rotation Invariant Variation Operators for Metaheuristics

      Author: Tian, Ye; Zhang, Xingyi; He, Cheng; Tan, Kay Chen; Jin, Yaochu

      Journal: CHINESE JOURNAL OF ELECTRONICS. 2023; Vol. 32, Issue 1, pp. 111-129. DOI: 10.23919/cje.2022.00.100

    • 8、Ancient Character Recognition: A Novel Image Dataset of Shui Manuscript Characters and Classification Model

      Author: Tang, Minli; Xie, Shaomin; Liu, Xiangrong

      Journal: CHINESE JOURNAL OF ELECTRONICS. 2023; Vol. 32, Issue 1, pp. 64-75. DOI: 10.23919/cje.2022.00.077

    投稿常見問題

    通訊方式:TECHNOLOGY EXCHANGE LIMITED HONG KONG, 26-28 AU PUI WAN ST, STE 1102, FO TAN INDUSTRIAL CENTRE, FO TAN, SHATIN, PEOPLES R CHINA, 00000。

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