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    Iet Computers And Digital Techniques

    Iet Computers And Digital TechniquesSCIE

    國際簡稱:IET COMPUT DIGIT TEC  參考譯名:計算機與數字技術

    • 中科院分區

      4區

    • CiteScore分區

      Q2

    • JCR分區

      Q3

    基本信息:
    ISSN:1751-8601
    E-ISSN:1751-861X
    是否OA:開放
    是否預警:否
    TOP期刊:否
    出版信息:
    出版地區:ENGLAND
    出版商:Wiley
    出版語言:English
    出版周期:Bi-monthly
    出版年份:2007
    研究方向:工程技術-計算機:理論方法
    評價信息:
    影響因子:1.1
    H-index:40
    CiteScore指數:3.5
    SJR指數:0.393
    SNIP指數:0.752
    發文數據:
    Gold OA文章占比:69.64%
    研究類文章占比:92.86%
    年發文量:14
    自引率:0
    開源占比:0.3176
    出版撤稿占比:0
    出版國人文章占比:0.07
    OA被引用占比:0
    英文簡介 期刊介紹 CiteScore數據 中科院SCI分區 JCR分區 發文數據 常見問題

    英文簡介Iet Computers And Digital Techniques期刊介紹

    IET Computers & Digital Techniques publishes technical papers describing recent research and development work in all aspects of digital system-on-chip design and test of electronic and embedded systems, including the development of design automation tools (methodologies, algorithms and architectures). Papers based on the problems associated with the scaling down of CMOS technology are particularly welcome. It is aimed at researchers, engineers and educators in the fields of computer and digital systems design and test.

    The key subject areas of interest are:

    Design Methods and Tools: CAD/EDA tools, hardware description languages, high-level and architectural synthesis, hardware/software co-design, platform-based design, 3D stacking and circuit design, system on-chip architectures and IP cores, embedded systems, logic synthesis, low-power design and power optimisation.

    Simulation, Test and Validation: electrical and timing simulation, simulation based verification, hardware/software co-simulation and validation, mixed-domain technology modelling and simulation, post-silicon validation, power analysis and estimation, interconnect modelling and signal integrity analysis, hardware trust and security, design-for-testability, embedded core testing, system-on-chip testing, on-line testing, automatic test generation and delay testing, low-power testing, reliability, fault modelling and fault tolerance.

    Processor and System Architectures: many-core systems, general-purpose and application specific processors, computational arithmetic for DSP applications, arithmetic and logic units, cache memories, memory management, co-processors and accelerators, systems and networks on chip, embedded cores, platforms, multiprocessors, distributed systems, communication protocols and low-power issues.

    Configurable Computing: embedded cores, FPGAs, rapid prototyping, adaptive computing, evolvable and statically and dynamically reconfigurable and reprogrammable systems, reconfigurable hardware.

    Design for variability, power and aging: design methods for variability, power and aging aware design, memories, FPGAs, IP components, 3D stacking, energy harvesting.

    Case Studies: emerging applications, applications in industrial designs, and design frameworks.

    期刊簡介Iet Computers And Digital Techniques期刊介紹

    《Iet Computers And Digital Techniques》自2007出版以來,是一本計算機科學優秀雜志。致力于發表原創科學研究結果,并為計算機科學各個領域的原創研究提供一個展示平臺,以促進計算機科學領域的的進步。該刊鼓勵先進的、清晰的闡述,從廣泛的視角提供當前感興趣的研究主題的新見解,或審查多年來某個重要領域的所有重要發展。該期刊特色在于及時報道計算機科學領域的最新進展和新發現新突破等。該刊近一年未被列入預警期刊名單,目前已被權威數據庫SCIE收錄,得到了廣泛的認可。

    該期刊投稿重要關注點:

    Cite Score數據(2024年最新版)Iet Computers And Digital Techniques Cite Score數據

    • CiteScore:3.5
    • SJR:0.393
    • SNIP:0.752
    學科類別 分區 排名 百分位
    大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering Q2 380 / 797

    52%

    大類:Engineering 小類:Hardware and Architecture Q3 104 / 177

    41%

    大類:Engineering 小類:Software Q3 241 / 407

    40%

    CiteScore 是由Elsevier(愛思唯爾)推出的另一種評價期刊影響力的文獻計量指標。反映出一家期刊近期發表論文的年篇均引用次數。CiteScore以Scopus數據庫中收集的引文為基礎,針對的是前四年發表的論文的引文。CiteScore的意義在于,它可以為學術界提供一種新的、更全面、更客觀地評價期刊影響力的方法,而不僅僅是通過影響因子(IF)這一單一指標來評價。

    歷年Cite Score趨勢圖

    中科院SCI分區Iet Computers And Digital Techniques 中科院分區

    中科院 2023年12月升級版 綜述期刊:否 Top期刊:否
    大類學科 分區 小類學科 分區
    計算機科學 4區 COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 計算機:硬件 COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS 計算機:理論方法 4區 4區

    中科院分區表 是以客觀數據為基礎,運用科學計量學方法對國際、國內學術期刊依據影響力進行等級劃分的期刊評價標準。它為我國科研、教育機構的管理人員、科研工作者提供了一份評價國際學術期刊影響力的參考數據,得到了全國各地高校、科研機構的廣泛認可。

    中科院分區表 將所有期刊按照一定指標劃分為1區、2區、3區、4區四個層次,類似于“優、良、及格”等。最開始,這個分區只是為了方便圖書管理及圖書情報領域的研究和期刊評估。之后中科院分區逐步發展成為了一種評價學術期刊質量的重要工具。

    歷年中科院分區趨勢圖

    JCR分區Iet Computers And Digital Techniques JCR分區

    2023-2024 年最新版
    按JIF指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
    學科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE SCIE Q4 52 / 59

    12.7%

    學科:COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS SCIE Q3 87 / 143

    39.5%

    按JCI指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
    學科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE SCIE Q4 54 / 59

    9.32%

    學科:COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS SCIE Q4 115 / 143

    19.93%

    JCR分區的優勢在于它可以幫助讀者對學術文獻質量進行評估。不同學科的文章引用量可能存在較大的差異,此時單獨依靠影響因子(IF)評價期刊的質量可能是存在一定問題的。因此,JCR將期刊按照學科門類和影響因子分為不同的分區,這樣讀者可以根據自己的研究領域和需求選擇合適的期刊。

    歷年影響因子趨勢圖

    發文數據

    2023-2024 年國家/地區發文量統計
    • 國家/地區數量
    • India56
    • USA26
    • Iran15
    • CHINA MAINLAND13
    • England9
    • Canada7
    • Brazil4
    • Pakistan3
    • South Korea3
    • Taiwan3

    投稿常見問題

    通訊方式:WILEY, 111 RIVER ST, HOBOKEN, USA, NJ, 07030-5774。

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